根據(jù)PVEL產(chǎn)品認(rèn)證計(jì)劃（PQP）的組件可靠性測試結(jié)果，晶科能源的N型TOPCon雙面雙玻組件（產(chǎn)品型號：JKM555N-72HL4-BDV）在各項(xiàng)測試中表現(xiàn)不俗，尤其是在DH2000——+BO恢復(fù)后組件功率衰減極低，獲得了“最佳表現(xiàn)組件”的稱號。

根據(jù)PVEL對數(shù)百種不同品牌組件進(jìn)行的DH2000測試結(jié)果顯示，不同技術(shù)（包括PERC、TOPCon、HJT和CdTe）的平均衰減率為1.2%至1.7%，而晶科能源的N型TOPCon雙面組件的平均衰減率僅為0.55%，在所有測試組件中最低。

PVEL的濕熱（DH）測試模擬了典型的高溫高濕環(huán)境下濕氣的長期滲透對組件電池及封裝材料的性能影響，當(dāng)?shù)唾|(zhì)量的組件或不合格的層壓工藝導(dǎo)致封裝材料失效時(shí)，濕氣會滲入組件并腐蝕內(nèi)部材料，可能導(dǎo)致產(chǎn)品性能失效和使用安全問題。

DH2000是一種可靠性測試，將組件放置在85°C高溫和85%濕度的環(huán)境箱中，持續(xù)測試2000小時(shí)。該測試的持續(xù)時(shí)間是IEC認(rèn)證所要求的兩倍，目的是為了驗(yàn)證高溫和高濕條件下光伏組件電池及封裝材料的可靠性。

圖1 PQP測試前，工廠的目視、性能和光衰測試工序

圖2：PQP測試結(jié)果

圖3 PQP測試分析表

關(guān)于PVEL：

作為全球領(lǐng)先的獨(dú)立實(shí)驗(yàn)室，PVEL通過其產(chǎn)品認(rèn)證計(jì)劃（PQP）對光伏制造商的光伏組件進(jìn)行測試，并根據(jù)測試結(jié)果發(fā)布光伏組件可靠性評分卡。

PVEL對過去18個(gè)月內(nèi)工廠生產(chǎn)的組件進(jìn)行了嚴(yán)格審查，并對組件的性能進(jìn)行了測試。PQP包括熱循環(huán)、濕熱、動態(tài)機(jī)械載荷、PID和PAN等多個(gè)測試項(xiàng)目。

來源：晶科能源